Javna naročila: Aparati za preverjanje in preskušanje (stran 5)
2012-05-11Nakup naprav »Transmisijski elektronski mikroskop« in »Vrstični elektronski mikroskop« (UNG)
Nakup naprav »Transmisijski elektronski mikroskop« in »Vrstični elektronski mikroskop« vsa specifikacija, tehnične zahteve, kriterije za izbiro in sklenitev pogodbe, dokumenti, ki jih mora ponudnik predložiti, način posredovanja pojasnil v zvezi z razpisno dokumentacijo, način in rok oddaje ponudb, kraj in datum odpiranja ponudb in druge posebnosti, ki se nanašajo na izvedbo predmetnega javnega naročila so navedene v razpisni dokumentaciji.
Oglejte si javna naročila » Omenjeni dobavitelji:SCAN, d.o.o., Preddvor
2012-04-16»HR TEM mikroskop s CS korektorjem in dodatnimi analitskimi metodami« (KI)
V okviru javnega naročila je predvidena nabava atomsko-ločljivostnega analitskega vrstičnega presevnega mikroskopa z monokromatskim izvorom elektronov in korektorjem sferične aberacije objektne leče, opremljenim z dodatnimi analitskimi metodami (v nadaljevanju HR TEM mikroskop). Predmetno javno naročilo ni razdeljeno na sklope.
Oglejte si javna naročila » Omenjeni dobavitelji:JEOL (Europe) S.A.S.
2011-05-17»Agregat za pripravo in testiranje jedrnih komponent gorivnih celic sestoječ iz aplikatorja filmov, inkjet... (CO NOT)
V okviru javnega naročila je predvidena nabava agregata za pripravo in testiranje jedrnih komponent gorivnih celic sestoječ iz aplikatorja filmov, inkjet depozitorja in grelne preše. Z nabavo aplikatorja filmov, ink-jet depozitor in grelne preše bo Center odličnosti nizkooogljične tehnologije dobil orodje za izdelavo in preizkušanje lastnosti prototipnih elektrod, membran in embransko-elektrodnih sklopov (MES), ki jih razvija v okviru RR projektov.
Oglejte si javna naročila »