Nakup rabljene raziskovalne opreme- Sklop 1-23

Obvestilo o javnem naročilu (2020-07-09)
Objekt
Področje uporabe javnega naročila
Naslov: Laboratorijska, optična in precizna oprema (razen očal)
Referenčna številka: JN31/20
Kratek opis: Nakup rabljene raziskovalne opreme- Sklop 1-23.
Metapodatki obvestila
Izvirni jezik: slovenščina 🗣️
Vrsta dokumenta: Obvestilo o javnem naročilu
Vrsta naročila: Blago
Uredba: Evropska unija
Enotni besednjak javnih naročil (CPV)
Koda: Laboratorijska, optična in precizna oprema (razen očal) 📦
Dodatna koda CPV: Merilni instrumenti 📦
Optični instrumenti 📦
Instrumenti za preverjanje fizikalnih značilnosti 📦
Aparati za preverjanje in preskušanje 📦
Razni instrumenti za ocenjevanje ali testiranje 📦
Kraj izvedbe
Regija NUTS: Slovenija 🏙️

Postopek
Vrsta postopka: Odprti postopek
Vrsta ponudbe: Ponudba za posamezni sklop
Merila za podelitev
Najnižja cena

Naročnik
Identiteta
Država: Slovenija 🇸🇮
Vrsta naročnika: Drugo
Ime naročnika: Institut Jožef Stefan V angl.jeziku: Jožef Stefan Institute, Ljubljana, Slovenia
Poštni naslov: Jamova cesta 39
Poštna številka: 1000
Poštno mesto: Ljubljana
Stik
Internetni naslov: http://www.ijs.si/ijsw/Objave 🌏
E-naslov: dejan.ratkovic@ijs.si 📧
Telefon: +386 14773838 📞
Faks: +386 14773189 📠
URL dokumentov: https://www.ijs.si/ijsw/Objave#Objave.2FDesno.Javna_naro.2BAQ0-ila_v_teku 🌏
URL za sodelovanje: https://ejn.gov.si/ponudba/pages/aktualno/aktualno_javno_narocilo_podrobno.xhtml?zadevaId=19436 🌏

Sklic
Datumi
Datum pošiljanja: 2020-07-09 📅
Rok za predložitev: 2020-08-17 📅
Datum objave: 2020-07-14 📅
Identifikatorji
Številka obvestila: 2020/S 134-328948
Številka UL-S: 134
Dodatne informacije
Rok za sprejemanje ponudnikovih vprašanj: 10.8.2020 10:00:00

Objekt
Področje uporabe javnega naročila
Največje število sklopov na ponudnika: 23
Naziv sklopa: Naprava na osnovi dvofotonske polimerizacije za tiskanje 3D objektov iz polimerov z ločljivostjo 150 nm
Številka sklopa: 1
Kratek opis: Trajanje: 2 mesecev
Naziv sklopa: Optična pinceta
Številka sklopa: 2
Kratek opis: Optična pinceta.
Naziv sklopa: Visokoenergijski pikosekundni laser
Številka sklopa: 3
Kratek opis: Visokoenergijski pikosekundni laser.
Naziv sklopa: Mikrovalovni izvor
Številka sklopa: 4
Kratek opis: Mikrovalovni izvor.
Trajanje: 1 mesecev
Naziv sklopa: Modul za FLIM (mikroskopijo s slikanjem življenjskih časov fluorescenece)
Številka sklopa: 5
Kratek opis: Modul za FLIM (mikroskopijo s slikanjem življenjskih časov fluorescenece).
Naziv sklopa: Vrstični mikroskop v bližnjem polju (SNOM)
Številka sklopa: 6
Kratek opis: Vrstični mikroskop v bližnjem polju (SNOM).
Številka sklopa: 7
Naziv sklopa: Laserski sistem za razrez
Številka sklopa: 8
Kratek opis: Laserski sistem za razrez.
Naziv sklopa: Reometer
Številka sklopa: 9
Kratek opis: Reometer.
Naziv sklopa: Oprema za karakterizacijo keramičnih suspenzij s termično analizo
Številka sklopa: 10
Kratek opis: Oprema za karakterizacijo keramičnih suspenzij s termično analizo.
Naziv sklopa: Instrument za določanje stabilnosti disperzij
Številka sklopa: 11
Kratek opis: Instrument za določanje stabilnosti disperzij.
Naziv sklopa: Sistem za merjenje toplotne prevodnosti
Številka sklopa: 12
Kratek opis: Sistem za merjenje toplotne prevodnosti.
Naziv sklopa: Dilatometer
Številka sklopa: 13
Kratek opis: Dilatometer.
Naziv sklopa: Mikroskop na atomsko silo
Številka sklopa: 14
Kratek opis: Mikroskop na atomsko silo.
Naziv sklopa: Magnetometer na tresoči vzorec
Številka sklopa: 15
Kratek opis: Magnetometer na tresoči vzorec.
Naziv sklopa: Brezkontaktni dilatometer
Številka sklopa: 16
Kratek opis: Brezkontaktni dilatometer.
Naziv sklopa: Naprava z hitro sintranje keramike
Številka sklopa: 17
Kratek opis: Naprava z hitro sintranje keramike.
Naziv sklopa: Mikrovalovna-radiacijska peč
Številka sklopa: 18
Kratek opis: Mikrovalovna-radiacijska peč.
Naziv sklopa: Sistem za in-situ karakterizacijo vzorcev v presevnem elektronskem mikroskopu
Številka sklopa: 19
Kratek opis: Sistem za in-situ karakterizacijo vzorcev v presevnem elektronskem mikroskopu.
Naziv sklopa: Detektor za uklone razpršenih povratno sipanih elektronov
Številka sklopa: 20
Kratek opis: Detektor za uklone razpršenih povratno sipanih elektronov.
Naziv sklopa: Visokokotni obročasti detektor za opazovanje vzorca v temnem polju
Številka sklopa: 21
Kratek opis: Visokokotni obročasti detektor za opazovanje vzorca v temnem polju.
Naziv sklopa: CCD kamera charged coupled device kamera
Številka sklopa: 22
Kratek opis: CCD kamera charged coupled device kamera.
Naziv sklopa: Difuzijska sonda za NMR spektrometer
Številka sklopa: 23
Kratek opis: Difuzijska sonda za NMR spektrometer.

Postopek
Pravna podlaga: 32014L0024
Čas za prejem ponudb: 10:00
Jeziki, v katerih se lahko predložijo ponudbe ali zahtevki za sodelovanje: slovenščina 🗣️
Rok veljavnosti ponudbe: 2020-11-30 📅
Datum odpiranja ponudb: 2020-08-17 📅
Čas odpiranja ponudb: 10:01

Naročnik
Identiteta
Nacionalna registrska številka: 5051606000
Druga vrsta naročnika: Javni zavod
Stik
Kontaktna točka: Dejan Ratković
URL dokumentov: https://www.ijs.si/ijsw/Objave#Objave.2FDesno.Javna_naro.2BAQ0-ila_v_teku 🌏

Dopolnilne informacije
Pregled telesa
Ime: Državna revizijska komisija za revizijo postopkov oddaje javnih naročil
Poštni naslov: Slovenska cesta 54
Poštno mesto: Ljubljana
Poštna številka: 1000
Država: Slovenija 🇸🇮
Služba, pri kateri je mogoče dobiti informacije o postopku pregleda
Ime: Institut Jožef Stefan V angl.jeziku: Jožef Stefan Institute, Ljubljana, Slovenia
Poštni naslov: Jamova cesta 39
Vir: OJS 2020/S 134-328948 (2020-07-09)