Javno naročilo je razdeljeno na tri (3) sklope, in sicer:
Sklop 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS);
Sklop 2: Mikroskop na atomsko silo (angl. Atomic force microscope, AFM);
Sklop 3: Komora za delo v inertni atmosferi.
Podrobnejša specifikacija javnega naročila, roki dobave oziroma izvedbe ter ostale zahteve so razvidne iz priloge »Tehnične specifikacije«.
Rok
Rok za prejem ponudb je bil 2021-02-04.
Javno naročilo je bilo objavljeno na 2020-12-24.
Objekt Področje uporabe javnega naročila
Naslov:
“Nabava opreme za površinsko analizo v spektroelektrokemijskih študijah in komore za delo v inertni atmosferi
302/61 RIUM32-FKKT02-1/2020”
Izdelki/storitve: Laboratorijska, optična in precizna oprema (razen očal)📦
Kratek opis:
“Javno naročilo je razdeljeno na tri (3) sklope, in sicer:
Sklop 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl....”
Kratek opis
Javno naročilo je razdeljeno na tri (3) sklope, in sicer:
Sklop 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS);
Sklop 2: Mikroskop na atomsko silo (angl. Atomic force microscope, AFM);
Sklop 3: Komora za delo v inertni atmosferi.
Podrobnejša specifikacija javnega naročila, roki dobave oziroma izvedbe ter ostale zahteve so razvidne iz priloge »Tehnične specifikacije«.
Pokaži več Informacije o lotih
Ponudbe se lahko predložijo za največje število sklopov: 3
Največje število sklopov, ki se lahko dodelijo enemu ponudniku: 3
1️⃣ Področje uporabe javnega naročila
Naslov:
“Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)” Naslov
Identifikacijska številka lota: 1
Opis
Dodatni izdelki/storitve: Instrumenti za preverjanje fizikalnih značilnosti📦
Kraj izvedbe: Slovenija🏙️
Glavno mesto ali kraj izvajanja: Maribor, Slovenija
Opis javnega naročila:
“SKLOP 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)
Masna...”
Opis javnega naročila
SKLOP 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)
Masna spektroskopija sekundarnih ionov je oprema za površinsko analizo s katero se izmeri masni spekter na površini trdne snovi. Spektrometer omogoča analizo elementarne sestave in molekularne strukture površin, tankih plasti in faznih mej različnih materialov (keramike, polprevodnikov, polimerov, biomaterialov, prevlek, itd). TOF-SIMS je vrhunska oprema, ki omogoča visoko masno ločljivost, visoko prostorsko ločljivost, globinsko profiliranje z dvojnim izvorom ionov, tako za prevodne kot tudi za izolacijske materiale. Uporaba različnih ionskih izvorov omogoča takšni opremi analizo tako anorganskih kot tudi organskih materialov (uporaba klastrov) z doseganjem visokih masnih ločljivosti tudi za lažje elemente kot so dušik, vodik in kisik ter za doseganje visoke lateralne ločljivosti (<60 nm) mikroanalize in slikanja.
Pokaži več Merila za podelitev
Cena
Trajanje pogodbe, okvirnega sporazuma ali dinamičnega nabavnega sistema Opis
Trajanje: 240
Področje uporabe javnega naročila
Informacije o skladih Evropske unije: Nadgradnja nacionalnih raziskovalnih infrastruktur RIUM
2️⃣ Področje uporabe javnega naročila
Naslov: Mikroskop na atomsko silo (angl. Atomic force microscope, AFM)
Naslov
Identifikacijska številka lota: 2
Opis
Opis javnega naročila:
“Sklop 2: Mikroskop na atomsko silo (angl. Atomic force microscope, AFM)
Mikroskop na atomsko silo (AFM) je oprema za preučevanje topografije materialov...”
Opis javnega naročila
Sklop 2: Mikroskop na atomsko silo (angl. Atomic force microscope, AFM)
Mikroskop na atomsko silo (AFM) je oprema za preučevanje topografije materialov atomske ločljivosti in ugotavljanje interakcij. Uporabljala se bo za analizo novih naprednih materialov za katalizatorje, primerna je tako za študij prevodnih kot tudi neprevodnih materialov. Oprema bo imela možnost sklopitve s potenciostatom/galvanostatom, kar bo omogočalo simultano izvajanje elektrokemijskih meritev ob spremljanju topografskih in morfoloških lastnosti vzorca na atomski skali. Oprema se bo uporablja tudi za določevanje topografije na večji skali za analizo novih naprednih materialov, senzorjev in komponent v mikrofluidiki.
3️⃣ Področje uporabe javnega naročila
Naslov: Komora za delo v inertni atmosferi
Naslov
Identifikacijska številka lota: 3
Opis
Opis javnega naročila:
“Sklop 3: Komora za delo v inertni atmosferi
Možnost obdelave optoelektronskih materialov v pogojih brez kisika in vode ali anaerobnih bioloških materialov v...”
Opis javnega naročila
Sklop 3: Komora za delo v inertni atmosferi
Možnost obdelave optoelektronskih materialov v pogojih brez kisika in vode ali anaerobnih bioloških materialov v sterilnih pogojih brez kisika ob maksimalni varnosti za raziskovalca. Možnost izvajanja meritev z različno prenosno opremo v suhih ali sterilnih pogojih.
Postopek Vrsta postopka
Odprti postopek
Administrativne informacije
Rok za prejem ponudb ali prošenj za sodelovanje: 2021-02-04
10:00 📅
Jeziki, v katerih se lahko predložijo ponudbe ali zahtevki za sodelovanje: slovenščina 🗣️
Spodnji časovni okvir je izražen v številu mesecev.
Najkrajši rok, v katerem mora ponudnik ohraniti ponudbo: 4
Pogoji za odpiranje ponudb: 2021-02-04
10:01 📅
Dopolnilne informacije Informacije o elektronskih delovnih tokovih
Sprejeti bodo elektronski računi
Uporablja se elektronsko plačilo
Dodatne informacije
Rok za sprejemanje ponudnikovih vprašanj: 25.1.2021 10:00:00
Pregled telesa
Ime: Državna revizijska komisija za revizijo postopkov oddaje javnih naročil
Poštni naslov: Slovenska cesta 54
Poštno mesto: Ljubljana
Poštna številka: 1000
Država: Slovenija 🇸🇮 Služba, pri kateri je mogoče dobiti informacije o postopku pregleda
Ime: Univerza v Mariboru
Poštni naslov: Slomškov trg 15
Poštno mesto: Maribor
Poštna številka: 2000
Država: Slovenija 🇸🇮
Vir: OJS 2020/S 253-638338 (2020-12-24)
Dodatne informacije (2021-01-28)
Dopolnilne informacije Sklic na prvotno obvestilo
Številka obvestila v UL S: 2020/S 253-638338
Spremembe Besedilo, ki ga je treba popraviti v prvotnem obvestilu
Številka oddelka: IV.2.2
Stara vrednost
Datum: 2021-02-04 📅
Čas: 10:00
Nova vrednost
Datum: 2021-02-09 📅
Čas: 10:00
Besedilo, ki ga je treba popraviti v prvotnem obvestilu
Številka oddelka: IV.2.7
Stara vrednost
Datum: 2021-02-04 📅
Čas: 10:01
Nova vrednost
Datum: 2021-02-09 📅
Čas: 10:01
Druge dodatne informacije
“Naročnik objavlja popravek dokumentov Navodila ponudnikom za pripravo ponudbe, Vzorec pogodbe, Tehnične specifikacije ter Priloga 2: Izjava o izpolnjevanju...”
Naročnik objavlja popravek dokumentov Navodila ponudnikom za pripravo ponudbe, Vzorec pogodbe, Tehnične specifikacije ter Priloga 2: Izjava o izpolnjevanju minimalnih tehničnih zahtev naročnika in specifikacije ponujene opreme za sklop 2 in sklop 3 ter vzorca pogodbe, v slovenskem in angleškem jeziku.
V dokumentu 4_Tehnične specifikacije in dokumentu 4_Technical specifications se spremembe nanašajo na št. postavke 2.1, 3.1, 3.2, 3.3 in 3.7.
V dokumentu Priloga 2: Izjava o izpolnjevanju minimalnih tehničnih zahtev naročnika in specifikacije ponujene opreme za v dokumentu Annex 2: Compliance declaration with minimum technical requirements of the offered equipment se spreminjata v postavki 2.1 za sklop/lot 2 in v postavkah 3.1, 3.2, 3.3 in 3.7 za sklop/lot 3.
Vsi popravki so označeni z rdečo barvo. Naročnik prosi ponudnike, da popravek upoštevajo pri pripravi ponudb.
Popravek dokumentacije je na voljo na naslovu: https://www.enarocanje.si/App/Datoteke/383680/1._Popravek_1._Correction.zip
Pokaži več
Vir: OJS 2021/S 022-052639 (2021-01-28)
Obvestilo o oddaji naročila (2021-03-08) Naročnik Vrsta naročnika
Druga vrsta: javni zavod
Objekt Področje uporabe javnega naročila
Kratek opis:
“Javno naročilo je razdeljeno na 3 sklope, in sicer:
Sklop 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight...”
Kratek opis
Javno naročilo je razdeljeno na 3 sklope, in sicer:
Sklop 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS);
Sklop 2: Mikroskop na atomsko silo (angl. Atomic force microscope, AFM);
Sklop 3: Komora za delo v inertni atmosferi.
Podrobnejša specifikacija javnega naročila, roki dobave oziroma izvedbe ter ostale zahteve so razvidne iz priloge »Tehnične specifikacije«.
Pokaži več Informacije o lotih
Ta pogodba je razdeljena na sklope ✅ Opis
Opis javnega naročila:
“Sklop 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)
Masna...”
Opis javnega naročila
Sklop 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)
Masna spektroskopija sekundarnih ionov je oprema za površinsko analizo s katero se izmeri masni spekter na površini trdne snovi. Spektrometer omogoča analizo elementarne sestave in molekularne strukture površin, tankih plasti in faznih mej različnih materialov (keramike, polprevodnikov, polimerov, biomaterialov, prevlek, itd). TOF-SIMS je vrhunska oprema, ki omogoča visoko masno ločljivost, visoko prostorsko ločljivost, globinsko profiliranje z dvojnim izvorom ionov, tako za prevodne kot tudi za izolacijske materiale. Uporaba različnih ionskih izvorov omogoča takšni opremi analizo tako anorganskih kot tudi organskih materialov (uporaba klastrov) z doseganjem visokih masnih ločljivosti tudi za lažje elemente kot so dušik, vodik in kisik ter za doseganje visoke lateralne ločljivosti (<60 nm) mikroanalize in slikanja.
Postopek Administrativne informacije
Prejšnja objava v zvezi s tem postopkom: 2020/S 253-638338
Oddaja naročila
1️⃣
Identifikacijska številka lota: 1
Naslov:
“Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)” Informacije o nepovratnih sredstvih
Nobena ponudba ali prošnja za sodelovanje ni bila prejeta ali pa so bile vse zavrnjene
2️⃣
Identifikacijska številka lota: 2
Naslov: Mikroskop na atomsko silo (angl. Atomic force microscope, AFM)
3️⃣
Identifikacijska številka lota: 3
Naslov: Komora za delo v inertni atmosferi
Vir: OJS 2021/S 050-124041 (2021-03-08)